XJTAG vient de commercialiser un outil appelé XJInvestigator qui permet une analyse poussée des erreurs de fabrication lors du test de cartes électroniques en production. XJInvestigator est mis à disposition avec la dernière version 3.1 des outils XJTAG. Les outils de XJTAG sont utilisés tout au long du cycle de vie d’une carte électronique, du développement et prototypage, jusqu’à la production. XJInvestigator combine un environnement de test facile à utiliser et des fonctionnalités avancées de débogage et de recherche d'erreurs, afin que les ingénieurs puissent diagnostiquer les cartes qui échouent lors d’un test sur la ligne de production. On peut ainsi faire immédiatement un diagnostic sur un écran de contrôle en faisant par exemple basculer l’état de broches autrement inaccessibles sous les composants BGA, ou en localisant avec précision les défauts à l'aide de l’outil « Layout Viewer » qui permet de visualiser graphiquement la carte …

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• Outils de haut niveau pour la conception de tests Boundary Scan (norme 1149.1)
• Test d’interconnections (court circuit, circuit ouvert, collage à 1 ou 0) et tests fonctionnels bas niveau (SPI, I2C, Flash, RAM, UART, …)
• Diagnostics avancés permettant de localiser précisément les défauts sur la carte
• Utilisation des outils possible tout au long du cycle de vie du produit (R&D -> Production -> SAV)

Fournisseur : XJTAG
Référence : XJInvestigator

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