Jeudi 13 Mars @ VIPress.netUnité de source et mesure (SMU) de précision
National Instruments annonce l'unité de source et mesure (SMU) de précision NI PXIe-4139. Ce module assure une fréquence d'échantillonnage 100 fois plus rapide avec une densité de voies au moins deux fois supérieure à celle des instruments traditionnels. Il peut diminuer le coût global des tests et réduire le temps de mise sur le marché pour les ingénieurs de test dans un large éventail d'industries, des semi-conducteurs à l'automobile, en passant par l'électronique grand public …
• Sensibilité de mesure de courant de 100 fA: caractérise précisément les matériels à base de semiconducteurs hautes performances.
• Fréquence d'échantillonnage de 1,8 Méch./s : capture les caractéristiques des matériels en régime transitoire sans oscilloscope externe.
• Jusqu'à 17 voies SMU dans une baie 4U 19 pouces : minimise l'encombrement pour les systèmes à grand nombre de voies.
• Technologie SourceAdapt : réduit les temps de test dans leur ensemble et protège le matériel sous test des dépassements (overshoot) et des oscillations même sur des charges inductives ou capacitives élevées.
Référence : PXIe-4139
Fournisseur : National Instruments
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